因此我们常常把样品放在高电压、大电流、高湿度、高温、较大气压等条件下进行测试，然后根据样品的失效机理和模型来推算产品在正常条件下的寿命。可靠性是对产品耐久力的测量，我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。嵌入式设计人员之所以采用MSO，是因为它从能够查看2个或4个信号，扩展到能够查看 多20个信号，而不必求助于 的工具——逻辑分析仪。尽管这种通道数量长期来一直被市场广泛接受，但这是不是仍适合当今的嵌入式系统呢？对示波器商和嵌入式系统设计人员来说，这是一个值得思考的问题。商必需知道其的是不是客户实际需要的、愿意付费购的测试功能。设计人员则需要适合作业的工具。对这一问题的思考，推动了多个科研项目的实施，来自世界各地的嵌入式系统工程师正更加深入地考察示波器通道数量问题。如果示波器没有足够大的存储深度，则再高的采样率也无法充分发挥价值。ZDS4Plus标配512Mpts存储深度，哪怕面对4GSa/s的采样率，也能存储长达128ms的波形。“真正意义”测量如果不能对所有存储深度的每一个波形都进行测量，存储深度的价值也就是“波形不失真”这一基本要求而已，却无法更进一步地去自动挖掘出波形中存在的异常。只有具备“真正意义”参数测量统计功能，512Mpts的海量数据的价值才能被挖掘，否则如果只测其中的一个周期，海量的数据有何意义？不同于传统示波器只测一个周期，或通过抽样减少数据量再测量的模式，ZDS4Plus通过FPGA全硬件并行，基于原始采样率和512Mpts全存储深度，对每一帧波形每一周期进行测量统计，可在几百毫秒内实现对512Mpts数据的“真正意义”参数测量，测试项目可达51种，并且支持24种参数同时显示。

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红外热像仪可用于通过缜密的图像判读识别闪燃产生的条件。但是就目前而言，为即将到来的闪燃好准备的方法是接受详细的消防员培训并仔细观察环境。预测融化钢结构？据传言，红外热像仪有时能预测钢始融化和弯曲的瞬间。这在消防场景下尤其有用，因为工业建筑大部分是钢构架。然而，即便使用温度范围高达+1,1°C的红外热像仪仍然难以实现，因为事实上钢的熔点要更高（大约+1,4°C）。FLIRK系列符合消防标准FLIRK系列红外热像仪不会显示超过+65°C的温差。电容感应技术是 可靠的液位监测方法之一。这是因为液体本身具有导电性，从而引起电容传感器的电容发生变化。电容传感器分为两种：自电容和互电容。自电容使用单个引脚作为传感器，测量该引脚和地面之间的电容。这一电容被称为寄生电容。液体对传感器寄生电容的改变程度取决于液体体积。互电容使用一对引脚。其中一个作为发送器(TX)，另一个作为接收器(RX)。这种方法测量的是两者之间的电容，即互电容。液体会引起互电容的变化，而变化程度取决于液位。

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