电子产品的发展日新月异，尤其是消费电子产品如智能手机，更新换代之快更是令人目不暇接，几个月就可能有一款新产品上市。而测试测量仪器从外形、使用方法上多年来还基本保持其一贯的风格，以集成有屏幕、操作面板和器的传统的台式机器为主。电子行业 基础的测试测量设备——示波器，数年来也持续追求高带宽、高精度、多通道等技术。而随着外部接口信号速度的进一步提升，如USB3.0的传输速度可达5Gbps/s，USB3.1的传输速度可达10Gbps/s，以及电子产品的发展趋势如传统大大到智能手机的转变蕴含了从大而功能简单到紧凑而功能强大的发展思路，传统台式仪器的演变似乎也有了新的趋势，如近来泰克就发布了基于PC（USB）的频谱仪和网络分析仪，而基于PC测试仪器尤其是基于PC的实时示波器和采样示波器的创鼻祖当属来自英国女皇奖企业英国比克科技（PicoTechnology），其致力于PC测试仪器的研发和生产已有26年的历史。基于3672系列矢量网络分析仪的放大器增益压缩测量应用仅需一次设置，一次连接，一次校准就可以得到放大器在频域的所有增益压缩参数（包括压缩点的输入功率，压缩点的输出功率，压缩点的增益等）和线性参数（包括线性增益，输入匹配，输出匹配等）。我们具有：快速准确的智能扫描；一目了然的向导校准；方便快捷的USB电子校准，USB功率校准；二维扫描（频率点扫功率和功率点扫频率）一次完成；多种压缩方法——从线性/增益压缩、从饱和态压缩、回退法和X/Y法。使用组合透镜系统对物体成像，实现加电时液晶透镜区域清晰，具有大视场、局部高分辨率的效果。本文通过实验测量分析模组光圈与液晶透镜匹配、液晶透镜位置等对于成像质量的影响。研究方向：液晶透镜成像系统测试目的：展示成像系统对于局部区域的清晰成像效果，测量不同位置、不同光圈下成像系统的MTF，分析其对于成像质量的影响。测试设备:相机、镜头、函数发生器、功率放大器ATA-24组合透镜系统放大器型号:AigtekATA-242实验过程：1.实验室液晶透镜，并通过干涉法获取波前信息，分析得到zernike系数，得到液晶透镜的性能参数，以选择合适的驱动电压；成像系统，对不同区域的物体进行成像实验；使用ISO12233板对成像系统进行对焦测试，测试不同光圈、不同液晶透镜位置的MTF值。

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为避免此问题，运维人员需要对炉内运行状况进行定期检测。传统检测方式只能通过人眼观察以及对炉内进行接触式单点测温，粗略判断炉内运行状况，而红外热像仪可实现全像面、远距离观测。工作时裂解炉内的温度高达1℃，工作人员通过巨电子热像仪直观地了解到裂解炉内包括对流管、炉壁的温度状态以及因长期使用后产生的外部结垢、内部堵塞等。此外，在石化生产过程中存在大量的管道及热力设备需要进行保温，保温效果的好坏直接关系到产能建设和运营成本。是德科技拥有丰富的产品系列，而且鼎力支持放接口和体系结构，能够为客户广泛的电子战场景解决方案，从单一测试台测试到场景应有尽有。这款现代化的电子战测试和评估解决方案具有出色的可扩展性，通过重新配置系统，能够实现对射频测试资产的利用。是德科技信息战事业部总经理GregPatschke表示：“是德科技深知，我们的客户需要强大的解决方案以便从容应对日新月异的电子战环境。我们将继续与客户携手合作，发和交付能够快速适应新环境的解决方案，帮助客户提升实验室的测试水平。

望远镜配置包含了八个子望远镜阵列和光束组合望远镜位于阵列的，用来采集来自子望远镜的光线，并且可以在聚焦平面上产生干涉图像。光学延迟线可以均衡来自每个子望远镜不同波前进入路径的差别， 到达覆盖在上面的聚焦平面。干涉边缘图案样式在聚焦平面上形成，并且具有良好的可见度，在干涉仪臂之间的光学路径差（OPD）被保持在比相干长度小的范围之内。随着OPD的增加，边缘图案变得越来越黯淡，即其可见度越来越低。这是因为干涉仪并非工作在单一的波长上，而是工作在有限的频带上。